深圳市欣同達(dá)科技有限公司2025-05-01

欣同達(dá)老煉座支持多芯片測(cè)試。針對(duì)多芯片測(cè)試需求，其設(shè)計(jì)了多種解決方案。一方面，有專門的多工位老煉座產(chǎn)品，這種老煉座在結(jié)構(gòu)上集成了多個(gè)的芯片測(cè)試工位，每個(gè)工位都具備完整的電氣連接和信號(hào)傳輸功能，可同時(shí)對(duì)多個(gè)相同或不同類型的芯片進(jìn)行測(cè)試。例如，在電子產(chǎn)品大規(guī)模生產(chǎn)過程中的芯片批量老化測(cè)試環(huán)節(jié)，多工位老煉座可提高測(cè)試效率，降低測(cè)試成本。另一方面，對(duì)于一些需要對(duì)特定組合芯片進(jìn)行協(xié)同測(cè)試的場(chǎng)景，欣同達(dá)可根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制設(shè)計(jì)，通過優(yōu)化內(nèi)部電路布局和信號(hào)傳輸線路，實(shí)現(xiàn)多個(gè)芯片之間的同步測(cè)試和數(shù)據(jù)交互，滿足客戶復(fù)雜的多芯片測(cè)試需求，應(yīng)用于系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試、芯片組兼容性測(cè)試等領(lǐng)域 。

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