主營(yíng)產(chǎn)品: 相位差測(cè)試|應(yīng)力分布測(cè)試|近眼顯示測(cè)試|偏光膜光軸測(cè)試
主營(yíng)產(chǎn)品: 相位差測(cè)試|應(yīng)力分布測(cè)試|近眼顯示測(cè)試|偏光膜光軸測(cè)試
主營(yíng)產(chǎn)品: 相位差測(cè)試|應(yīng)力分布測(cè)試|近眼顯示測(cè)試|偏光膜光軸測(cè)試
主營(yíng)產(chǎn)品: 相位差測(cè)試|應(yīng)力分布測(cè)試|近眼顯示測(cè)試|偏光膜光軸測(cè)試
主營(yíng)產(chǎn)品: 相位差測(cè)試|應(yīng)力分布測(cè)試|近眼顯示測(cè)試|偏光膜光軸測(cè)試
主營(yíng)產(chǎn)品: 相位差測(cè)試|應(yīng)力分布測(cè)試|近眼顯示測(cè)試|偏光膜光軸測(cè)試
應(yīng)力雙折射測(cè)量技術(shù)是基于光彈性原理發(fā)展起來(lái)的一種應(yīng)力分析方法,特別適用于透明或半透明材料的應(yīng)力檢測(cè)。當(dāng)偏振光通過(guò)存在應(yīng)力的材料時(shí),會(huì)產(chǎn)生雙折...
偏光度測(cè)量是評(píng)估AR/VR光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的重要指標(biāo)。相位差測(cè)量?jī)x采用穆勒矩陣橢偏技術(shù),可以分析光學(xué)模組的偏振特性。這種測(cè)試對(duì)Pancake...
成像應(yīng)力檢測(cè)設(shè)備通過(guò)將應(yīng)力分布可視化,極大提升了檢測(cè)效率和結(jié)果判讀的直觀性。這類設(shè)備通?;诠鈴椥曰驍?shù)字圖像相關(guān)技術(shù),能夠?qū)崟r(shí)捕捉樣品表面的...
成像式應(yīng)力儀的未來(lái)發(fā)展將更加注重多功能集成和智能化應(yīng)用。新一代設(shè)備開(kāi)始融合多種檢測(cè)模式,如將應(yīng)力檢測(cè)與尺寸測(cè)量、表面缺陷檢測(cè)等功能集成于一體...
千宇光學(xué)專注于偏振光學(xué)應(yīng)用、光學(xué)解析、光電探測(cè)器和光學(xué)檢測(cè)儀器的研發(fā)與制造。事業(yè)涵蓋光電材料、光學(xué)顯示、半導(dǎo)體、薄膜透鏡、印刷涂料等行業(yè)。 產(chǎn)品覆蓋LCD、OLED、VR、AR等上中下游各段光學(xué)測(cè)試需求,并于國(guó)內(nèi)率先研發(fā)相位差測(cè)試儀打破國(guó)外設(shè)備壟斷,目前已廣泛應(yīng)用于全國(guó)光學(xué)頭部品牌及其制造商。 千宇光學(xué)研發(fā)中心由光學(xué)博士團(tuán)隊(duì)組成,掌握自主研發(fā)的光學(xué)檢測(cè)技術(shù), 測(cè)試結(jié)果可溯源至國(guó)家計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)。千宇以提供高價(jià)值產(chǎn)品及服務(wù)為發(fā)展原動(dòng)力, 通過(guò)持續(xù)輸出高速度、高精度、高穩(wěn)定的光學(xué)檢測(cè)技術(shù),優(yōu)化產(chǎn)品品質(zhì),成為精密光學(xué)產(chǎn)業(yè)有價(jià)值的合作伙伴。