上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司是從事工業(yè)與消費(fèi)產(chǎn)品測(cè)試,檢驗(yàn)與驗(yàn)證并具有第三方公正地位的專業(yè)檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)。實(shí)驗(yàn)室已取得中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書（CNAS ）實(shí)驗(yàn)室依照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC17025：2005《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求》管理和運(yùn)行,具備向社會(huì)出具公正性檢測(cè)報(bào)告的資格。 可靠性試驗(yàn)，是指通過試驗(yàn)測(cè)定和驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性。為了測(cè)定、驗(yàn)證或提高產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn)，它是產(chǎn)品可靠性工作的一個(gè)重要環(huán)節(jié) 在研制階段使產(chǎn)品達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo)。為了使產(chǎn)品能達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo)，在研制階段需要對(duì)樣品進(jìn)行可靠性試驗(yàn)，以便找出產(chǎn)品在原材料、結(jié)構(gòu)、工藝、環(huán)境適應(yīng)性等方面所存在的問題，而加以改進(jìn)，經(jīng)過反復(fù)試驗(yàn)與改進(jìn)，就能不斷地提高產(chǎn)品的各項(xiàng)可靠性指標(biāo)，達(dá)到預(yù)定的要求。企業(yè)在研發(fā)產(chǎn)品時(shí)進(jìn)行可靠性環(huán)境的測(cè)試，能有效幫助企業(yè)節(jié)省生產(chǎn)成本。上海溫度可靠性測(cè)試公司

    MTBF驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)：MTBF是當(dāng)前各行業(yè)產(chǎn)品的重要可靠性指標(biāo)，它標(biāo)識(shí)了產(chǎn)品的平均無故障工作時(shí)間。MTBF英文全稱是“MeanTimeBetweenFailure”。是衡量一個(gè)產(chǎn)品（尤其是電器產(chǎn)品）的可靠性指標(biāo)。單位為“小時(shí)”。它反映了產(chǎn)品的時(shí)間質(zhì)量，是體現(xiàn)產(chǎn)品在規(guī)定時(shí)間內(nèi)保持功能的一種能力。具體來說，是指相鄰兩次故障之間的平均工作時(shí)間，也稱為平均故障間隔。概括地說，產(chǎn)品故障少的就是可靠性高，產(chǎn)品的故障總數(shù)與壽命單位總數(shù)之比叫“故障率”（Failurerate）。根據(jù)MTBF能計(jì)算產(chǎn)品的失效率(Failurerate)故障率（Failurerate）:在單位時(shí)間內(nèi)（一般以年為單位），產(chǎn)品的故障總數(shù)與運(yùn)行的產(chǎn)品總數(shù)之比叫做故障率，常用λ表示。例如，共有100臺(tái)設(shè)備運(yùn)行，一年之內(nèi)出了2次故障，那么該設(shè)備的故障率為2/100=。當(dāng)產(chǎn)品的壽命服從指數(shù)分布（見下圖）時(shí)，故障率的倒數(shù)就是MTBF，即平均故障間隔時(shí)間。例如某產(chǎn)品A的MTBF為22萬小時(shí)。22萬小時(shí)約為25年，并不是說A產(chǎn)品能工作25年不出故障。因?yàn)镸TBF=1/λ,所以可以計(jì)算出故障率λ=1/MTBF=1/25=4%,即A產(chǎn)品的平均年故障率為4%，一年內(nèi)。 老化試驗(yàn)可靠性測(cè)試一般的可靠性測(cè)試項(xiàng)目包含哪些內(nèi)容?

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司較新檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn) 15、IP防護(hù)等級(jí)（外殼防護(hù)試驗(yàn)）： 外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）：GB 4208-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則：GB/T 2423.38-2008 16、低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.35-2005 17、高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.36-2005 18、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合 19、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合

為了確認(rèn)產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作，國(guó)標(biāo)、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測(cè)試項(xiàng)目，上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司為客戶提供以下可靠性測(cè)試服務(wù)： 高低溫循環(huán)測(cè)試 恒溫恒濕測(cè)試 交變濕熱測(cè)試 低溫存儲(chǔ)測(cè)試 高溫存儲(chǔ)測(cè)試 高低溫沖擊測(cè)試 鹽霧測(cè)試(Salt Spray Test) 開關(guān)電測(cè)試(Switch electrical test) 膠帶附著力測(cè)試(The tape adhesion test) 振動(dòng)測(cè)試隨機(jī)/正弦(Vibration test) 包裝箱自由跌落測(cè)試(Drop test) 元器件推拉力測(cè)試(Push And Pull) 蒸氣老化測(cè)試(Steam Aging test) 元器件可焊性測(cè)試(Solderability test) IP等級(jí)防護(hù)測(cè)試 電源拉扭力測(cè)試 LED光衰壽命測(cè)試及認(rèn)證 回焊爐試驗(yàn) 塑封芯片MSL等級(jí)測(cè)試可靠性環(huán)境的測(cè)試人員一定要嚴(yán)格按照操作規(guī)程進(jìn)行測(cè)試。

測(cè)試可靠性的較簡(jiǎn)單的一個(gè)方法是使用隨機(jī)輸入，這種類型的測(cè)試通過提供虛假的不合邏輯的輸入，努力使應(yīng)用程序發(fā)生故障或掛起。輸入可以是鍵盤或鼠標(biāo)事件、程序消息流、Web頁、數(shù)據(jù)緩存或任何其他可強(qiáng)制進(jìn)入應(yīng)用程序的輸入情況。應(yīng)該使用隨機(jī)破壞測(cè)試測(cè)試重要的錯(cuò)誤路徑，并公開軟件中的錯(cuò)誤。這種測(cè)試通過強(qiáng)制失敗以便可以觀察返回的錯(cuò)誤處理來改進(jìn)代碼質(zhì)量。在隔離的受保護(hù)的測(cè)試環(huán)境中可靠的軟件，在真實(shí)環(huán)境的部署中可能并不可靠。雖然隔離測(cè)試在早期的可靠性測(cè)試進(jìn)程中是有用的，但真實(shí)環(huán)境的測(cè)試環(huán)境才能確保并行應(yīng)用程序不會(huì)彼此干擾?？煽啃栽囼?yàn)的目的以及分類都有那些?上海可靠性測(cè)試上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司

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如何保證設(shè)備在以年為單位的典型使用壽命內(nèi)可靠，而不會(huì)導(dǎo)致無法接受的生產(chǎn)延遲？為了解決這個(gè)問題，工程師們提出了可靠性測(cè)試的概念?？煽啃詼y(cè)試通過以更高的溫度、電壓和其他環(huán)境因素的形式向被測(cè)設(shè)備(DUT)施加更大的應(yīng)力，從而在功能上加速老化過程。在這個(gè)“降額”過程的不同階段對(duì)芯片運(yùn)行的統(tǒng)計(jì)分析揭示了設(shè)計(jì)中的潛在弱點(diǎn)。通過在DUT進(jìn)入批量生產(chǎn)之前進(jìn)行各種可靠性測(cè)試，制造商可以降低風(fēng)險(xiǎn)。它們降低了發(fā)布導(dǎo)致大量現(xiàn)場(chǎng)維修甚至召回的有缺陷產(chǎn)品的可能性。較終，可靠性測(cè)試增加了公司從新設(shè)計(jì)中獲利的機(jī)會(huì)，并有助于促進(jìn)行業(yè)的更多創(chuàng)新。上海溫度可靠性測(cè)試公司

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