利用SEM掃描電鏡技術(shù),我們能夠為客戶提供全方面、準(zhǔn)確的電池材料研發(fā)解決方案。SEM可以提供電池材料表面的高分辨率圖像,幫助檢測和分析表面形貌的特征,如顆粒形態(tài)、表面結(jié)構(gòu)、紋理等。通過SEM圖像的測量與分析,可以獲取電池材料中粒子的大小和分布情況,包括顆粒...
我們利用的蔡司顯微鏡雙束電鏡FIB-SEM為材料、極片提供高精度的截面加工及成像分析,搭載飛秒激光的激光雙束電鏡LaserFIB尤其適合大尺寸極片及電芯截面的快速定位制備,冷凍聚焦離子束Cryo-FIB配合冷凍傳輸系統(tǒng),能夠在低溫冷凍條件下對含液或環(huán)境敏感...